相容 Microsoft Windows 作业系统之软体 使用X萤光射线可作非接触非破坏快速分析膜厚 拥有多种Filter选择性 各种样品单层至多层(5层),合金膜厚与溶液均可量测 定点自动定位分析 光径对准全自动化 影像重叠功能 自动显示量测参数 彩色区别量测数据

测量元素范围：钛Ti22---铀U92；
测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；
测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin；
快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；
可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；
进行贵金属检测，如Au karat评价；
材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；
强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；
结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；
测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；
激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；
拥有NIST认证的标准片；
提供全球服务及技术支持。

CMI900荧光X射线镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，快速无损测量，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。