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Micro Pioneer XRF-2000系列
相容 Microsoft Windows 作业系统之软体 使用X萤光射线可作非接触非破坏快速分析膜厚 拥有多种Filter选择性 各种样品单层至多层(5层),合金膜厚与溶液均可量测 定点自动定位分析 光径对准全自动化 影像重叠功能 自动显示量测参数 彩色区别量测数据¥ 0.00立即购买
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CMI900系列
CMI900荧光X射线镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,快速无损测量,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。¥ 0.00立即购买
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X-Strata920系列
测量元素范围:钛Ti22---铀U92;
测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;
测量精度高、稳定性好,测量结果精确至μin;
快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果;
可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析;
进行贵金属检测,如Au karat评价;
材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;
强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图;
结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等;
测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍;
激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦;
拥有NIST认证的标准片;
提供全球服务及技术支持。¥ 0.00立即购买