CMI900系列
适用范围
用于电子元器件，半导体，PCB，FPC，LED支架，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器，端子，卫浴洁具，首饰饰品……多个行业表面镀层厚度的测量；
测量镀层，金属涂层，薄膜的厚度或液体（镀液的成分分析）组成。
主要特点
测量范围宽，可检测元素范围：Ti22–U92；
可同时测定5层/15种元素/共存元素较正；
精度高、稳定性好；
强大的数据统计、处理功能；
NIST认证的标准片；
全球服务及技术支持。
技术参数
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主要规格 |
规格描述 |
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X射线激发系统 |
垂直下照式X射线光学系统 |
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空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 |
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标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 |
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功率：50W(4-50kV，0-1.0mA) |
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装备有安全防射线光闸 |
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二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 |
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准直器系统 |
单准直器组件 |
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多准直器自动控制组件：最多可同时装配6种规格的准直器 |
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圆形、矩形和多种规格尺寸准直器任选（红色为常用的）：
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测量斑点尺寸 |
在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器) |
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在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圆形12mil>准直器) |
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样品室 |
开槽式样品室 |
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样品台尺寸 |
最大610mm x 610mm |
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XY轴移动范围 |
标准：152.4 x 177.8mm<程控> |
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Z轴程控移动高度 |
43.18mm |
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XYZ轴控制方式 |
多种控制方式任选： XYZ三轴程序控制； XY轴手动控制和Z轴程序控制； |
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样品观察系统 |
高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。 50倍和100倍观察系统任选。 |
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激光自动对焦功能 |
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可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 |
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计算机系统配置 |
联想商用i5控制电脑(Win10 简体中文）,显示器,彩色喷墨打印机 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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分析应用软件 |
操作系统：Windows XP中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包 |
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测厚范围 |
可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 |
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基本分析功能 |
采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品； |
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样品种类：镀层； |
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可检测元素范围：Ti22 – U92； |
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可同时测定5层/15种元素/共存元素校正； |
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贵金属检测，如Au karat评价； |
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材料和合金元素分析； |
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材料鉴别和分类检测； |
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多达4个样品的光谱同时显示和比较； |
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元素光谱定性分析。 |
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调整和校正功能 |
系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移 |
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测量自动化功能 |
鼠标激活测量模式：“Point and Shoot” |
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多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式 |
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测量位置预览功能 |
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激光对焦和自动对焦功能 |
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样品台程控功能 |
设定测量点 |
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连续多点测量 |
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测量位置预览(图表显示) |
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统计计算功能 |
平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 |
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任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 |
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数据分组、X-bar/R图表、直方图 |
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数据库存储功能 |
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系统安全监测功能 |
Z轴保护传感器 样品室门开闭传感器 |
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