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美国博曼 BA-100 XRF 镀层测厚仪｜精准把控镀层品质，赋能高端制造
美国博曼 Bowman BA-100 台式 X 射线荧光镀层测厚仪，原装进口、匠心研发，以无损、快速、高精度为核心，为电镀、电子、汽车、五金、PCB 与元器件行业提供一站式膜厚与元素分析解决方案。
넶6 2026-03-20 -
美国博曼 BA-100 镀层测厚仪 XRF 无损检测 多层镀层高精度测量 电镀 / 五金 / PCB 专用
镀层薄厚决定品质，精准检测守住底线！美国原装博曼 BA-100 XRF 镀层测厚仪，专注无损、快速、高精度镀层检测，一次可测多层镀层，覆盖全行业镀种，操作简单、数据稳定、经久耐用，是企业质检、来料验收、制程管控的硬核装备。
넶5 2026-03-20
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B系列
B系列可满足以下类型用户的需求：
测试量要求相对较低
较大的样品，每个零件需要一个测试位置
大型线路板镀层的抽检
预算限制，可以选择以后升级组件
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！¥ 0.00立即购买
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P系列
P系列可满足以下类型用户的需求：
小型镀件领域，如紧固件，连接器或PCB
需要测试多个样品的多个位置
期望在多个样品上实现自动化测量
样品尺寸和应用经常变化
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
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W系列
W系列Micro XRF是最理想的选择公司：
需要检测晶圆，引线框架，PCBs
需要快速测量多个样品的多个点
期望在多个样品上实现自动化测量
需要遵守IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励¥ 0.00立即购买
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L系列
L系列可满足以下类型用户的需求：
尺寸超过12英寸（300毫米）到最大24英寸（600毫米）的零件
需容纳多个样品进行自动化多点测量
可扩展到更大尺寸的样品，用于未来的项目
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
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符合RoHS要求¥ 0.00立即购买
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M系列
M系列可满足以下类型用户的需求：
非常小的样品，主要应用于半导体，连接器或PCB领域
需要测试多个样品的多个位置
非常薄的涂层（<100nm）
需要在短时间内完成测量（1-5秒）
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
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O系列
O系列可满足以下类型用户的需求：
极小的样品，如半导体，连接器或PCB
需要测试多个样品的多个位置
需要测量非常薄的涂层（<100nm）
需要在短时间内完成测量（1-5秒）
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
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G系列
G系列XRF是实验室和生产线的理想选择，特别是在用户拥有：
预留摆放空间小
预算有限
优先使用电动Z轴进行“自下而上”操作
需要快速，轻松地定位较小的样品
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
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BM-C30手持式面铜测厚仪
BM-C30一款手持式快速、精准、非破坏性的面铜测厚仪¥ 0.00立即购买
