B系列可满足以下类型用户的需求：
测试量要求相对较低
较大的样品，每个零件需要一个测试位置
大型线路板镀层的抽检
预算限制，可以选择以后升级组件
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！

P系列可满足以下类型用户的需求：
小型镀件领域，如紧固件，连接器或PCB
需要测试多个样品的多个位置
期望在多个样品上实现自动化测量
样品尺寸和应用经常变化
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！

K 系列 XRF 最适合有以下要求的客户：
保证符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
卓越的人体工程学设计：轻松访问、可编程载物台、灵​​活的行程
符合 ASTM B568 和 ISO 3497 标准
准直系统符合 RoHS 规定

G系列XRF是实验室和生产线的理想选择，特别是在用户拥有：
预留摆放空间小
预算有限
优先使用电动Z轴进行“自下而上”操作
需要快速，轻松地定位较小的样品
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！
符合RoHS要求

O系列可满足以下类型用户的需求：
极小的样品，如半导体，连接器或PCB
需要测试多个样品的多个位置
需要测量非常薄的涂层（<100nm）
需要在短时间内完成测量（1-5秒）
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！

M系列可满足以下类型用户的需求：
非常小的样品，主要应用于半导体，连接器或PCB领域
需要测试多个样品的多个位置
非常薄的涂层（<100nm）
需要在短时间内完成测量（1-5秒）
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！

L系列可满足以下类型用户的需求：
尺寸超过12英寸（300毫米）到最大24英寸（600毫米）的零件
需容纳多个样品进行自动化多点测量
可扩展到更大尺寸的样品，用于未来的项目
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！
符合RoHS要求

W系列Micro XRF是最理想的选择公司：
需要检测晶圆，引线框架，PCBs
需要快速测量多个样品的多个点
期望在多个样品上实现自动化测量
需要遵守IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励