O系列
O系列可满足以下类型用户的需求：
极小的样品，如半导体，连接器或PCB
需要测试多个样品的多个位置
需要测量非常薄的涂层（<100nm）
需要在短时间内完成测量（1-5秒）
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！
极小的样品，如半导体，连接器或PCB
需要测试多个样品的多个位置
需要测量非常薄的涂层（<100nm）
需要在短时间内完成测量（1-5秒）
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
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O系列 结合了高性能和小的X射线光斑尺寸。 多毛细管聚焦光学系统可以取代标准Bowman系统中安装的准直仪组件，从而实现这一目标。 光学器件旨在将来自管出口窗口的X射线聚焦到非常小的光斑尺寸（80μmFWHM），同时实际上保留100％的管通量。 因此，与准直仪系统一样，多毛细管光学组件不会使无法穿过小孔的X射线衰减，而是使来自管的几乎所有X射线都能到达样品。 结果对于测试非常小的组件或薄涂层的灵敏度更高。 与光学系统和类似尺寸的准直仪相比，更短的测试时间可以实现更好的可重复性。
该系列采用80μm毛细管光学结构，同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。与 P系列其他型号相比，O系列的相机具有更大的放大倍数，45x视频放大和5x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近，所以使用时样品必须平整。
性能表现
| 镍钯金 | 化学镍 | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 微米金 | 微米钯 | 微米镍 | 微米NiP | 微米％P | |
| Ave | 0.043 | 0.08 | 3.72 | 10.202 | 10.17 |
| StdDev | 0.0005 | 0.0009 | 0.00010 | 0.1089 | 0.29 |
| Range | 0.0015 | 0.0030 | 0.040 | 0.3863 | 0.9900 |
| %RSD | 1.05% | 1.13% | 0.03% | 1.07% | 2.85% |
产品规格
| X射线管： | 50 W 钼靶射线管 80um毛细管光学结构 |
| 探测器： | 高分辨率SDD硅漂移探测器 |
| 分析层数 及元素数： |
5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素 |
| 滤波器/准直器： | 2位置一次滤波器 |
| 焦距： | 固定为0.1英寸（2.54毫米） |
| 数字脉冲处理： | 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 |
| 计算机： | 联想商用i5控制电脑(Win10 简体中文）,显示器,彩色喷墨打印机 |
| 相机： | 1/4英寸（6毫米）CMOS-1280×720 VGA分辨率，双摄像头为250倍，单摄像头为45倍，屏幕为15英寸 |
| 视频放大倍率： | 45x：配备双摄像头50x：15上的单摄像头“屏幕 |
| 电源： | 150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz |
| 工作环境： | 温度介于68°F（20°C）与77°F（25°C）之间，相对湿度小于98％，无冷凝 |
| 重量： | 53kg |
| 可编程XY平台： | 桌子尺寸：381mm（15“）x 340mm（13”）| 行程：152毫米（6英寸）x 127毫米（5英寸） 现在可用 扩展 舞台选择 |
| 样品仓尺寸： | 高度：140mm（5.5"），宽度：310mm（12"），深度：340mm（13"） |
| 外形尺寸： | 高度：450mm（18"），宽度：450mm（18"），深度：600mm（24"） |
