P系列

P

产品中心

Product Center

P系列可满足以下类型用户的需求:
小型镀件领域,如紧固件,连接器或PCB
需要测试多个样品的多个位置
期望在多个样品上实现自动化测量
样品尺寸和应用经常变化
保证符合IPC-4552A,4553A,4554和4556
ASTM B568,DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励!

P系列 提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。 它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。 操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。 可以创建多点程序,通过单击按钮自动测量多个样品位置。 精确控制可用于测试关键区域。 通过多点编程可以获得更大的采样量。

标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。 可以为应用定制准直器和焦距。 固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。 SDD检测器是可选的。

产品规格

元素测量范围: 13号铝元素到92号铀元素
X射线管: 50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管
探测器: 高分辨率SDD硅漂移探测器
分析层数
及元素数:
5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素
滤波器/准直器: 4位置一次滤波器/ 4种规格准直器
焦距: 可变焦
数字脉冲处理: 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正
计算机: 联想商用i5控制电脑(Win10 简体中文),显示器,彩色喷墨打印机
相机: 1/4''(6mm)CMOS-1280×720 VGA分辨率
视频放大倍率: 30x:标准45x:可选
电源: 150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz
重量: 32-50kg
马达控制/可编程XY平台 桌子尺寸:381mm(15“)x 340mm(13”)| 行程:152毫米(6英寸)x 127毫米(5英寸)
延伸可编程XY平台: 桌子尺寸:715mm(25“)x 610mm(25”)| 行程:254毫米(10英寸)x 254(10英寸)
现在可用 扩展 舞台选择
样品仓尺寸: 高度:140mm(5.5"),宽度:310mm(12"),深度:340mm(13")
外形尺寸: 高度:450毫米(18英寸),宽度:450毫米(18英寸),深度:600毫米(24英寸)